English

株式会社デクシス

株式会社デクシス

トピックス Topics2012年

バックナンバー

  • イベント情報
  • サポートお問い合せ
  • なるほどコラム外観検査
2012/11/22

2012年12月5日(水)~7日(金) パシフィコ横浜にて国際画像機器展2012に出展致しました。
出展の様子はこちらからご覧いただけます。
たくさんのご来場ありがとうございました。

2012/11/22

DM(TA)-3010製品 コネクタ及び型式変更の件

画像処理装置 DM(TA)-3010製品のVGAコネクタ位置が変更になります。
それに伴い、型式も変更となります。
詳細はこちらをご覧ください。

2012/7/10

2012年6月27日(水)~29日(金) 東京ビッグサイトにて 「第25回インターフェクス ジャパン」に出展致しました。
出展の様子はこちらからご覧いただけます。
たくさんのご来場、ありがとうございました。

2012/6/25

シート外観検査装置SFシリーズをリリース致しました。
カタログご希望の方はこちらよりご請求下さい。

2012/5/1

クールビズ実施のお知らせ
弊社では、クールビズ期間を5月1日から10月31日まで実施することに致しましたのでお知らせ致します。
社員の服装は原則、軽装にて業務をさせていただきます。また、お客様におかれましても、弊社ご来訪の際は是非、軽装にておいでくださりますようご協力とご理解をお願い申し上げます。

2012/1/31

2012年1月18日(水)~20日(金) 東京ビッグサイトにて 「第29回エレクトロテスト・ジャパン」に出展致しました。
たくさんのご来場、ありがとうございました。

PAGE TOP

 

サイトマップ

     
 

会社情報

製品紹介

 

IR情報

 

会社情報

検査システム

エンベデッドタイプ

 IR情報
   会社概要  人型外観検査システム 外観けんた君  シングルプロセッサ高速画像処理ユニット  
   沿革  ボトル外観検査装置 iシリーズ  デュアルプロセッサ高速画像処理ユニット

採用情報

   組織図  ボトル外観検査装置 BC/SCシリーズ  Intel製プロセッサ超高速画像処理ユニット  採用情報
   事業所・アクセス  キャップ外観検査装置  画像処理ライブラリィ  
   ビジョン  壜口・壜内検査機  アライメントパッケージソフト

サポート・お問合せ

     門型外観検査セルマシン  ソフトウェア開発  お問合せフォーム
 

事業内容

 バイアル粉末異物検査装置    
   主幹事業  液中異物検査装置LV-Cシリーズ

その他

 
   画像処理・システム技術  検査システム+前後工程  受託開発事業  
   製品開発

 

 オプテックス・エフエー製品  
   

カメラ

   
 

社会、品質への取組

 マルチプルイメージャー    
   品質方針  オートフォーカス制御    
   環境方針    
         
DECSYS ©Copyright DECSYS CORPORATION. All rights reserved.

プライバシーポリシー